ic可靠性測試項目 半導(dǎo)體第三方檢測機構(gòu)

日期:2022-07-12 18:15:48 瀏覽量:1744 標(biāo)簽: 可靠性測試 IC

據(jù)了解,可靠性測試設(shè)備能夠模擬環(huán)境并通過檢測確保產(chǎn)品達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)。而這種檢測方式一方面可以保障企業(yè)產(chǎn)品品質(zhì),同時也能夠提升企業(yè)產(chǎn)品在市場中的競爭力。現(xiàn)代半導(dǎo)體 IC 設(shè)計的第一個奇跡是它們能夠在如此小的空間內(nèi)包含高度復(fù)雜的電子電路。這些技術(shù)奇跡的制造商必須確保他們生產(chǎn)的設(shè)備能夠達(dá)到最終用戶的性能預(yù)期并滿足預(yù)期的使用壽命要求。

ic可靠性測試項目 半導(dǎo)體第三方檢測機構(gòu)

可靠性測試的類型

可靠性測試的重點是使設(shè)備因過壓而失效。在此過程中,操作測試顯示芯片保持功能的程度。每當(dāng)組件達(dá)到其斷裂點時,分析就會顯示其設(shè)計是否具有內(nèi)在的合理性。該方法預(yù)測一旦大規(guī)模生產(chǎn)并在現(xiàn)場部署,該設(shè)備是否會在可接受的水平上運行。

自 IC 芯片首次亮相以來的幾十年里,測試工程師開發(fā)了不同類型的加速壽命測試 (ALT) 。各種因素決定了哪些測試適用于給定設(shè)備。前幾代的操作規(guī)范和可靠性數(shù)據(jù)庫形成了一個統(tǒng)計基線,從中可以得出新的設(shè)備測試結(jié)果。

JEDEC等半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn)化組織建立了適當(dāng)?shù)目煽啃詼y試參數(shù)。一些最常見的測試包括:

(1)高溫工作壽命(HTOL)?–這種可靠性測試方法通過提高溫度和電壓來加快 DUT 的使用壽命。加速老化因子 (AF) 乘數(shù)允許根據(jù)測試時間長度計算 DUT的預(yù)期壽命。HTOL 對 IC 設(shè)計的每個子結(jié)構(gòu)進(jìn)行測試,因此測試可以揭示有關(guān)設(shè)備壽命和由于壓力可能導(dǎo)致的故障點的精確信息。

(2)高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 (HAST)?–評估器件封裝在潮濕環(huán)境中的可靠性。通過增加加壓環(huán)境中的溫度和濕度,該測試會加速水分對包裝密封的降解。一旦濕氣破壞了密封,很可能由于器件基板和連接引線的腐蝕而失效。

(3)溫度循環(huán)測試 (TCT)?–通常與加固設(shè)備一起使用,TCT 檢查設(shè)備承受極端高溫和低溫的能力。溫度循環(huán)會加速 IC 器件封裝、引線和密封件的疲勞失效。

(4)高溫存儲 (HTS)?–模擬設(shè)備在高溫環(huán)境中的長期存儲。HTS 被認(rèn)為是一種被動測試,因為沒有電應(yīng)力起作用。HTS 有助于確定設(shè)備在長時間承受高溫時是否能夠保持可靠。

測試有效性

存在許多類型的可靠性測試來模擬設(shè)備可能必須運行的特定條件。公司委托測試工程師確定評估特定 IC 的最佳方法。測試有效性評估測試是否測量了正確的參數(shù)以確定芯片是否會按設(shè)計執(zhí)行。為了創(chuàng)建可靠的產(chǎn)品,測試不僅必須重新創(chuàng)建加速壓力因素的準(zhǔn)確表示,還必須選擇正確的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評估。

收集正確數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠性測試對于銷售的任何電子產(chǎn)品的長期成功至關(guān)重要,因為它是對產(chǎn)品將按承諾運行的驗證。如果大量設(shè)備在現(xiàn)場出現(xiàn)故障,公司將蒙受金錢收益和聲譽損失。

邁向更高的可靠性

為了保持競爭力,公司必須找到具有成本效益的方法來預(yù)測新制造的設(shè)備的性能。一個答案是使用足夠靈活的專業(yè)設(shè)計的測試平臺來對不同的產(chǎn)品執(zhí)行測試。

維護(hù)多功能測試臺有助于生產(chǎn)設(shè)施避免將自制解決方案拼湊在一起的陷阱,這些解決方案可能證明不太令人滿意。投資于確保各種產(chǎn)品有效性的測試程序可以幫助公司在IC 制造的激烈競爭中取得領(lǐng)先。

以上是創(chuàng)芯檢測小編整理的ic可靠性測試相關(guān)內(nèi)容,希望對您有所幫助。深圳創(chuàng)芯在線檢測技術(shù)有限公司是國內(nèi)知名的電子元器件專業(yè)檢測機構(gòu),建有標(biāo)準(zhǔn)化實驗室3個,實驗室面積1000平米以上。檢測服務(wù)范圍涵蓋:電子元器件測試驗證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計選料、失效分析,功能檢測、工廠來料檢驗、元器件X-Ray檢測以及編帶等多種測試項目。

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