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    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
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    可焊性測(cè)試
    開(kāi)蓋測(cè)試
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    X-Ray檢測(cè)
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
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    開(kāi)蓋測(cè)試
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    MCIMX6U6AVM08AC 開(kāi)蓋檢測(cè)

    日期:2023-11-14 15:05:15 瀏覽量:1202 作者:創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心

    客戶提供制造商為 NXP 型號(hào) MCIMX6U6AVM08AC 的 1 片樣品進(jìn)行開(kāi)蓋檢查。

    測(cè)試結(jié)果:開(kāi)蓋發(fā)現(xiàn) freescale 標(biāo)志和 2011 版權(quán)年及晶片代碼N81E。

    測(cè)試結(jié)論:樣品 Die 為 freescale 廠商產(chǎn)品。

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