EMC測(cè)試是什么？電磁兼容性能測(cè)試主要內(nèi)容

日期：2022-06-23 17:55:00 瀏覽量：1591 標(biāo)簽: EMC測(cè)試電磁兼容電磁兼容測(cè)試性

EMC測(cè)試又叫做電磁兼容（EMC）全稱(chēng)是ElectroMagneticCompatibility，指的是是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大?。‥MI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)量重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測(cè)量由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。EMC即電磁兼容性包括兩個(gè)方面的要求：第一是指設(shè)備在正常運(yùn)行過(guò)程中對(duì)所在環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾的最大限值;第二是指器具對(duì)所在環(huán)境中存在的電磁干擾的抗擾度。首先，該設(shè)備應(yīng)能在一定的電磁環(huán)境下正常工作，即該設(shè)備應(yīng)具備一定的電磁抗擾度(EMS)；其次，該設(shè)備自身產(chǎn)生的電磁騷擾不能對(duì)其他電子產(chǎn)品產(chǎn)生過(guò)大的影響，即電磁騷擾(EMI)。

EMC測(cè)試主要分類(lèi)

EMC包括EMI(電磁干擾)及EMS(電磁耐受性)兩部份，所謂EMI電磁干擾，乃為機(jī)器本身在執(zhí)行應(yīng)有功能的過(guò)程中所產(chǎn)生不利于其它系統(tǒng)的電磁噪聲；而EMS乃指機(jī)器在執(zhí)行應(yīng)有功能的過(guò)程中不受周?chē)姶怒h(huán)境影響的能力。

1.EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測(cè)試，此測(cè)試之目的為：檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。

EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容？

Radiated Emission－輻射騷擾測(cè)試

Conducted Emission－傳導(dǎo)騷擾測(cè)試

Harmonic－諧波電流騷擾測(cè)試

Flicker－電壓變化與閃爍測(cè)試

2.EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）---電磁抗擾度測(cè)試，此測(cè)試之目的為：檢測(cè)電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。

EMS測(cè)試主要包含什么內(nèi)容？

ESD－靜電抗擾度測(cè)試

RS－射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試

CS－射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試

DIP－電壓暫降，短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試

SURGE－浪涌（沖擊）抗擾度測(cè)試

EFT－電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試

PFMF－工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試

雜散定義：指用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)調(diào)制時(shí)在除載頻和由于正常調(diào)制和切換瞬態(tài)引起的邊帶及鄰道以外離散頻率上的輻射（既遠(yuǎn)端輻射）。雜散輻射按其來(lái)源可分為傳導(dǎo)型和輻射型兩種。

傳導(dǎo)雜散：指在天線(xiàn)的接頭處50歐姆負(fù)載上測(cè)得的任意離散信號(hào)的電平功率。

輻射雜散：測(cè)試設(shè)備的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)及互連電纜引起的雜散騷擾。測(cè)試條件首選在電波暗室內(nèi)進(jìn)行，或是在戶(hù)外進(jìn)行。

EMC測(cè)試步驟

1、指定試驗(yàn)大綱和測(cè)試細(xì)則

2、確定所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)

3、交換試驗(yàn)接口信息

4、檢查測(cè)量?jī)x器

5、開(kāi)始分項(xiàng)測(cè)試

6、出具測(cè)試報(bào)告

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的電磁兼容性能測(cè)試相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助。深圳創(chuàng)芯在線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)有限公司是國(guó)內(nèi)知名的電子元器件專(zhuān)業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1000平米以上。檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠(chǎng)來(lái)料檢驗(yàn)、元器件X-Ray檢測(cè)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。

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