電子元器件的常見(jiàn)篩選項(xiàng)目
日期：2024-06-03 14:29:57 瀏覽量：331 標(biāo)簽: 電子元器件
電子元器件是現(xiàn)代電子產(chǎn)品中不可或缺的組成部分。為了確保電子產(chǎn)品的性能和可靠性，選擇合適的電子元器件至關(guān)重要。本文將介紹電子元器件的篩選原則以及常見(jiàn)的篩選項(xiàng)目。
一、電子元器件的篩選原則
1. 規(guī)格和性能匹配：根據(jù)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要求，選擇規(guī)格和性能與之匹配的電子元器件。例如，如果需要一個(gè)電容器來(lái)存儲(chǔ)電荷，就需要選擇容量適當(dāng)?shù)碾娙萜鳌?/p>
2. 可靠性和壽命：電子產(chǎn)品需要長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行，因此選擇可靠性高、壽命長(zhǎng)的電子元器件非常重要?？煽啃钥梢酝ㄟ^(guò)了解供應(yīng)商的聲譽(yù)和產(chǎn)品的質(zhì)量認(rèn)證來(lái)評(píng)估。
3. 成本效益：在選擇電子元器件時(shí)，需要考慮成本效益。高性能的電子元器件通常價(jià)格較高，但有時(shí)候低成本的元器件也能滿足需求。需要權(quán)衡成本和性能之間的關(guān)系。
4. 供應(yīng)鏈和可獲得性：選擇供應(yīng)鏈穩(wěn)定、可獲得性高的電子元器件。如果某個(gè)元器件供應(yīng)鏈不穩(wěn)定，可能會(huì)導(dǎo)致生產(chǎn)延誤或停產(chǎn)。
5. 兼容性和接口：在選擇電子元器件時(shí)，需要考慮其與其他元器件的兼容性和接口。確保各個(gè)元器件之間可以正常通信和協(xié)作。
_20240603142753_164.jpg "電子元器件的常見(jiàn)篩選項(xiàng)目")
二、常見(jiàn)的電子元器件篩選項(xiàng)目
一、振動(dòng)和沖擊試驗(yàn)
對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行振動(dòng)和沖擊試驗(yàn)，這項(xiàng)試驗(yàn)意在模擬產(chǎn)品在使用的過(guò)程中會(huì)受到的振動(dòng)、沖擊環(huán)境，能夠有效的在模擬過(guò)程中找到不良偽劣元器件的各種故障問(wèn)題，發(fā)現(xiàn)元器件的虛焊、漏焊等多種故障，該項(xiàng)試驗(yàn)對(duì)于一些精密電子設(shè)備來(lái)說(shuō)是一項(xiàng)重要的篩選項(xiàng)目。
二、恒溫試驗(yàn)
電子元器件的失效大多數(shù)的情況是因?yàn)槠鋬?nèi)在的或表面的各種物理化學(xué)多種情況引發(fā)的，都與溫度有著多多少少的聯(lián)系。元器件在高溫的環(huán)境中，失效的進(jìn)程一會(huì)被加速，對(duì)應(yīng)的物理化學(xué)反應(yīng)的加速，使得其缺陷的元器件能夠及早的暴露出來(lái)，便于剔除。該項(xiàng)篩選常常應(yīng)用在半導(dǎo)體元器件上，通常會(huì)持續(xù)在高溫儲(chǔ)存1天到1周之久，能夠有效剔除譬如鍵合不良、氧化層缺陷等各種失效機(jī)理的元器件。通過(guò)高溫貯存后，還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來(lái)，減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)間要適當(dāng)選擇，以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理。
三、高低溫試驗(yàn)
電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì)遇到各種不同的環(huán)境，在不同的環(huán)境條件下，會(huì)受到熱的冷的環(huán)境，在熱脹冷縮的作用之下，性能較差的元器件就會(huì)出現(xiàn)產(chǎn)生各種失效機(jī)理，因此能夠通過(guò)該種試驗(yàn)來(lái)讓產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下的熱脹冷縮的變化，進(jìn)行產(chǎn)品的篩選，有效的剔除存在性能缺陷的產(chǎn)品，通常的元器件篩選溫度在-55℃至+125℃的環(huán)境下，循環(huán)試驗(yàn)5-10次。
四、離心加速度試驗(yàn)
離心加速度試驗(yàn)又稱(chēng)恒定應(yīng)力加速度試驗(yàn)。這項(xiàng)篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行，把高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上，可以剔除鍵合強(qiáng)度過(guò)弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件，通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗(yàn)一分鐘。
五、電性能試驗(yàn)
各種電子元器件需要在額定功率條件下試驗(yàn)數(shù)小時(shí)至一周時(shí)間。各種元器件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引入新的失效機(jī)理。在熱電應(yīng)力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的一個(gè)重要項(xiàng)目。
本文介紹了電子元器件的篩選原則和常見(jiàn)的篩選項(xiàng)目。通過(guò)各項(xiàng)目的篩選也能夠幫助我們辨別產(chǎn)品的優(yōu)劣，防止我們購(gòu)買(mǎi)到偽劣的元器件，影響到后續(xù)生產(chǎn)品的質(zhì)量。
