電子電器的可靠性測(cè)試通常包括哪些方面?
日期:2024-01-23 15:48:48 瀏覽量:480 標(biāo)簽: 可靠性測(cè)試
為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)。對(duì)于不同的產(chǎn)品,為了達(dá)到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法。可靠性測(cè)試也稱產(chǎn)品的可靠性評(píng)估,產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。
電子電器做可靠性試驗(yàn)的目的:
1、為廠家提供出廠依據(jù),能夠更直接的檢測(cè)產(chǎn)品的質(zhì)量及性能,有利于廠家技術(shù)方面的改進(jìn)與提高,以便更好的服務(wù)客戶。
2、客戶在使用過(guò)程中,偶爾不小心會(huì)跌落底下或浸到液體等不可預(yù)測(cè)的事件發(fā)生,對(duì)產(chǎn)品造成破壞,可靠性測(cè)試可以針對(duì)這些不定因素做相關(guān)檢驗(yàn)。
電子電器的可靠性測(cè)試方法:
1.儲(chǔ)存環(huán)境試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:-20℃ 8H~60℃ 8H 濕度:90%
試驗(yàn)方法:在完整包裝的狀態(tài)下將機(jī)器分別經(jīng)過(guò)高/低溫儲(chǔ)存后,恢復(fù)到常溫下對(duì)機(jī)器進(jìn)行外形、結(jié)構(gòu)和性能方面的檢測(cè)。
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):外觀和機(jī)構(gòu)上無(wú)大異常,功能上測(cè)試無(wú)異常。
2.裸機(jī)跌落試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:常溫常濕的環(huán)境下
試驗(yàn)方法:保證電子產(chǎn)品在關(guān)機(jī)狀態(tài)下,在64mm厚水泥材料且表面貼20mm厚木板上進(jìn)行,正面背面?zhèn)让娓鞯湟淮?,?cè)按鍵面不做測(cè)試。落下高度:80CM
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):外殼結(jié)構(gòu)不可出現(xiàn)永久性損壞,試驗(yàn)后功能上應(yīng)無(wú)異常。
3.高溫/低溫啟動(dòng)試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:高溫啟動(dòng):將產(chǎn)品放置在 45℃ 80% RH 的恒溫恒濕機(jī)內(nèi);低溫啟動(dòng): 將產(chǎn)品放置在0℃的恒溫恒濕機(jī)內(nèi)
試驗(yàn)方法:在對(duì)應(yīng)的恒溫恒濕機(jī)內(nèi)保持4 小時(shí)開(kāi)機(jī)測(cè)試樣機(jī)的,檢驗(yàn)所有功能是否正常。
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):樣機(jī)應(yīng)能在高/低溫條件下正常啟動(dòng),且所有功能均能正常實(shí)現(xiàn)。
4.振動(dòng)試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:產(chǎn)品以包裝方式進(jìn)行試驗(yàn),振動(dòng)類型:隨機(jī)振動(dòng)
試驗(yàn)方法:振動(dòng)頻率為50Hz,振動(dòng)時(shí)間為每個(gè)方向20分鐘,震動(dòng)測(cè)試方向?yàn)閄.Y.Z,
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):試驗(yàn)完畢后按照出貨檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢查機(jī)臺(tái)是否有異常,運(yùn)行的振動(dòng)則以振動(dòng)中機(jī)臺(tái),是否能夠繼續(xù)正常工作。
5.老化試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:常溫常濕正常開(kāi)機(jī)狀態(tài)下
試驗(yàn)方法:充電循環(huán),反復(fù)循環(huán),重復(fù)循環(huán)續(xù)播放視頻;音量開(kāi)到最大,并設(shè)置Repeat all播放模式。
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):充放電正常,播放中無(wú)當(dāng)機(jī),死機(jī),顯示不良及聲音輸出異常等不良現(xiàn)象。
6.按鍵壽命試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:無(wú)任何破損狀態(tài)下
試驗(yàn)方法:機(jī)器上所有的按鍵連續(xù)按5000次,看看按鍵功能和實(shí)際的壽命
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):低于5000次測(cè)判定不合格
7.插拔力試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:在關(guān)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試
試驗(yàn)方法:使用耳機(jī)治具,電源插頭治具,USB插頭治具,TF卡治具,HDMI治具,連續(xù)拔插1000次。
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):低于1千次測(cè)判定不合格。
8.鹽霧試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:在關(guān)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試
試驗(yàn)方法:人工模擬鹽霧環(huán)境條件來(lái)考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能,鹽霧濃度以及試驗(yàn)時(shí)間根據(jù)客戶實(shí)際要求進(jìn)行試驗(yàn)。
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):1.計(jì)算腐蝕面積并評(píng)級(jí)(GB/T 6461);
2.外觀描述:是否生銹、生銹類型、腐蝕程度等、是否有氣泡/開(kāi)裂等
3.檢查功能(僅針對(duì)成品);
4.其他評(píng)價(jià):如附著力、鉛筆硬度、腐蝕寬度等。
9.防水防塵等級(jí)測(cè)試
試驗(yàn)條件:在關(guān)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試
試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證產(chǎn)品外殼的防護(hù)作用
試驗(yàn)方法:使用噴水、水池、防塵箱等設(shè)備根據(jù)不同的IP等級(jí)要求來(lái)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行不同程度的試驗(yàn)。 具體測(cè)試方法和要求可以看我的另一篇文章:可靠性試驗(yàn)-IP等級(jí)測(cè)試基本概念以及各等級(jí)測(cè)試要求介紹
試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):產(chǎn)品內(nèi)部不能進(jìn)水和積塵。
10.UV老化試驗(yàn)
試驗(yàn)條件:在關(guān)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試
試驗(yàn)方法:老化試驗(yàn)是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程。UV老化主要模擬產(chǎn)品在戶外使用時(shí),長(zhǎng)期暴露在陽(yáng)光照射下的情況,通過(guò)UV紫外線來(lái)模擬長(zhǎng)時(shí)間太陽(yáng)光照射的影響。
以上是創(chuàng)芯檢測(cè)網(wǎng)站整理的電子電器的可靠性測(cè)試相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測(cè)是一家電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測(cè)服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測(cè)、電子元器件來(lái)料外觀檢測(cè)、電子元器件解剖檢測(cè)、丙酮檢測(cè)、電子元器件X射線掃描檢測(cè)、ROHS成分分析檢測(cè)。歡迎致電,我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)!