在早期失效階段，有缺陷的、受污染的或處于臨界狀態(tài)的電子元器件會(huì)在這個(gè)時(shí)期失效而暴露出來(lái)。這個(gè)階段時(shí)間很短，有的元器件僅幾天便會(huì)失效，早早地便被淘汰。正常失效期為元器件的正常工作階段，也是元器件的壽命期限。本文收集整理了一些資料，期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。
_20221220145934_453.jpg "電子元器件常見(jiàn)失效階段包括哪些？")
大量同類元器件的失效可以分成三個(gè)階段：
1）早期失效期
新制造的電子器件，剛投入使用一段時(shí)間叫做早期失效。早期失效的特點(diǎn)是失效率高，但隨著工作時(shí)間的增加而迅速降低。這一段的失效原因有的是制造器件的原材料的缺陷造成；有的是元器件的生產(chǎn)過(guò)程中工藝措施不當(dāng)造成的。
總的來(lái)說(shuō)，早期失效是元器件本身設(shè)計(jì)和制造的缺陷而隱藏在內(nèi)部的一種潛在故障。在使用中會(huì)繼續(xù)惡化，故障暴露出來(lái)而造成的失效。所以元器件的早期失效對(duì)使用者來(lái)說(shuō)是十分有害的。在整機(jī)生產(chǎn)的工藝過(guò)程中，元器的老化篩選的主要目就是加速早期失效，使整機(jī)出廠前就進(jìn)入到正常的使用階段，篩選掉早期失效的元器件，保證整機(jī)的可靠工作。
2）偶然失效期
電子元器件在早期失效器后，就進(jìn)入到偶然失效期。這一階段的特點(diǎn)是失效率低而穩(wěn)定，而表現(xiàn)的是偶然性質(zhì)。這是元器件最好的工作階段。因?yàn)檫@一段使用時(shí)間長(zhǎng)，所以也叫使用壽命期。一個(gè)好的集成電路，其偶然失效可達(dá)百萬(wàn)小時(shí)以上。
在此期間的失效原因，可以看成是在某一時(shí)刻元器件所積累的應(yīng)力（指對(duì)器件的功能有影響的各種因素，如溫度，電壓，電流和機(jī)械應(yīng)力等）超過(guò)元器件對(duì)抗這些應(yīng)力的強(qiáng)度。一般有下列三種情況：遭受突然的機(jī)械沖擊或熱沖擊引起引線斷脫等；因?yàn)榇箅娏饕鸬慕Y(jié)的損壞；環(huán)境變化超過(guò)了適用范圍，使元器件特性變化過(guò)大而不能工作，甚至失效。
對(duì)于上述情況，應(yīng)從最壞的情況出發(fā)，考慮到元器件參數(shù)的可能變化的范圍進(jìn)行電路設(shè)計(jì)，并考慮一些具體措施，如散熱通風(fēng)措施和防電磁干擾措施等，以避免環(huán)境變化超過(guò)適用范圍。
3）損耗失效期
元器件經(jīng)過(guò)正常使用其后，由于老化，損耗，磨損和疲勞等原因，失效率隨著工作時(shí)間的增加而上升，這一階段叫做損耗失效期，又叫晚期失效期。
損耗失效主要是由于材料的化學(xué)和物理變化引起的，如管子內(nèi)部引線鍵合點(diǎn)表面長(zhǎng)期氧化而表面氧化使電阻增大，導(dǎo)致熱量過(guò)大而使鍵合點(diǎn)開(kāi)路；又如表面化學(xué)反應(yīng)，改變電子空穴的分布，產(chǎn)生反型層，形成導(dǎo)電溝道，使反向電流增大，參數(shù)變壞而使器件失效等。損耗失效是正常的自然規(guī)律，表明元器件已到額定使用期，對(duì)此采取的措施是定期更換。
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