材料成分檢測(cè)方法有哪些?常用的檢測(cè)技術(shù)
日期:2022-11-23 15:19:35 瀏覽量:3705 標(biāo)簽: 材料測(cè)試
成分分析是指通過(guò)科學(xué)分析方法對(duì)產(chǎn)品或樣品的成分進(jìn)行分析,對(duì)各個(gè)成分進(jìn)行定性定,量分析的技術(shù)方法。為幫助大家深入了解,本文將對(duì)材料成分檢測(cè)的相關(guān)知識(shí)予以匯總。如果您對(duì)本文即將要涉及的內(nèi)容感興趣的話,那就繼續(xù)往下閱讀吧。
材料分析可分為三個(gè)方面:材料結(jié)構(gòu)的測(cè)定、材料形態(tài)的觀察和材料成分的分析。物質(zhì)成分分析主要是通過(guò)檢測(cè)手段對(duì)樣品的成分進(jìn)行定性和定量分析。
下面介紹幾種常用的材料成分分析方法:
1.化學(xué)分析法:以物質(zhì)的化學(xué)反應(yīng)為基礎(chǔ)的分析方法稱為化學(xué)分析法。每種物質(zhì)都有其獨(dú)特的化學(xué)特性。我們可以利用物質(zhì)之間的化學(xué)反應(yīng),用適當(dāng)?shù)姆椒▽?duì)其進(jìn)行表征,以指示反應(yīng)過(guò)程,從而得到物質(zhì)中某些結(jié)合組分的含量。
2.原子光譜法:原子光譜是原子吸收或發(fā)射強(qiáng)度的光子能譜(通常用波長(zhǎng)表示),可以提供樣品的化學(xué)成分信息。原子光譜分為三類:原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜和原子熒光光譜;
3.X射線能譜(EDX):EDX常與電子顯微鏡配合使用,測(cè)量電子與樣品相互作用產(chǎn)生的特征X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度,以便對(duì)小面積所含元素進(jìn)行定性或定量分析。每個(gè)元素都有一個(gè)對(duì)應(yīng)于特定波長(zhǎng)的特征X射線,該特征X射線不隨入射電子的能量而改變。通過(guò)測(cè)量樣品的電子激發(fā)產(chǎn)生的特征X射線波長(zhǎng)的類型,可以確定樣品中元素的類型。元素含量與元素產(chǎn)生的特征X射線強(qiáng)度成正比,據(jù)此可確定元素含量。
4.電子能譜分析:電子能譜分析是利用單色光源或電子束照射樣品,使樣品中的電子被激發(fā)和發(fā)射,然后測(cè)量這些電子的強(qiáng)度和能量分布,從而獲得物質(zhì)信息。EDS的取樣深度只有幾納米,因此它只是表面成分的反應(yīng)。
5.X射線衍射(XRD):XRD也可以用來(lái)輔助相的定量分析。這是基于相的衍射強(qiáng)度隨含量的增加而增加的事實(shí)。然而,這是不相稱的,需要加以糾正。
6.質(zhì)譜(MS):將被測(cè)物質(zhì)電離,按離子的質(zhì)荷比分離,并測(cè)量各種離子光譜峰的強(qiáng)度,達(dá)到分析目的的分析方法。質(zhì)量是物質(zhì)的固有特性之一。不同的物質(zhì)有不同的質(zhì)譜(簡(jiǎn)稱質(zhì)譜)。利用這一性質(zhì),可以進(jìn)行定性分析;峰強(qiáng)度也與其所代表化合物的含量有關(guān),可用于定量分析;
7.分光光度法:分光光度計(jì)采用能產(chǎn)生多個(gè)波長(zhǎng)的光源,通過(guò)一系列分光器件,可用于定量分析,產(chǎn)生特定波長(zhǎng)的光源。光通過(guò)被測(cè)樣品后,部分光被吸收。計(jì)算樣品的吸光度值并將其轉(zhuǎn)換為樣品的濃度。吸光度值與樣品濃度成正比。包括可見分光光度計(jì)和紫外分光光度計(jì)。
8.火花直讀光譜儀:火花直讀光譜儀利用電火花的高溫,使樣品中的元素直接從固態(tài)蒸發(fā),并被激發(fā),發(fā)出每個(gè)元素的特征波長(zhǎng)。光柵分光光度計(jì)使用后,就成了按波長(zhǎng)排列的“光譜”。這些元件的特征譜線穿過(guò)出口狹縫,在光電倍增管中射入各自的波長(zhǎng),光信號(hào)被轉(zhuǎn)換成電信號(hào),由儀器的控制和測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行積分并轉(zhuǎn)換成a/D,再經(jīng)計(jì)算機(jī)處理,打印出各元素的百分含量。
以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的材料成分檢測(cè)方法相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì),建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè),實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上,可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。