電子元器件常用的篩選項(xiàng)目 了解一下!
日期:2022-11-11 14:35:08 瀏覽量:1062 標(biāo)簽: 可靠性
電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì),因此,應(yīng)該在電子元器件裝上整機(jī)、設(shè)備之前,就要設(shè)法把具有早期失效的元器件盡可能地加以排除,為此就要對(duì)元器件進(jìn)行篩選。那么電子元器件常見的篩選項(xiàng)目有哪些?接下來文中將簡(jiǎn)單介紹電子元器件常用的篩選項(xiàng)目,一起來看看吧!
電子元器件常用的篩選項(xiàng)目
高溫貯存
電子元器件的失效大多數(shù)是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化所引起,它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后,化學(xué)反應(yīng)速度大大加快,失效過程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時(shí)暴露,予以剔除。
高溫篩選在半導(dǎo)體器件上被廣泛采用,它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機(jī)理的器件。通常在最高結(jié)溫下貯存24~168小時(shí)。
高溫篩選簡(jiǎn)單易行,費(fèi)用不大,在許多元器件上都可以施行。通過高溫貯存以后還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來,減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)間要適當(dāng)選擇,以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理。
功率電老煉
篩選時(shí),在熱電應(yīng)力的共同作用下,能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷,它是可靠性篩選的一個(gè)重要項(xiàng)目。
各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉幾小時(shí)至168小時(shí),有些產(chǎn)品,如集成電路,不能隨便改變條件,但可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫,達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài),各種元器件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇,可以等于或稍高于額定條件,但不能引人新的失效機(jī)理。
功率老煉需要專門的試驗(yàn)設(shè)備,其費(fèi)用較高,故篩選時(shí)間不宜過長(zhǎng)。民用產(chǎn)品通常為幾個(gè)小時(shí),軍用高可靠產(chǎn)品可選擇 100、168小時(shí),宇航級(jí)元器件可以選擇240小時(shí)甚至更長(zhǎng)的周期。
溫度循環(huán)
電子產(chǎn)品在使用過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件,在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下,熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)力,能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是-55~+125℃,循環(huán)5~10次。
離心加速度
離心加速度試驗(yàn)又稱恒定應(yīng)力加速度試驗(yàn)。這項(xiàng)篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行,把利用高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上,可以剔除鍵合強(qiáng)度過弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件,通常選用20000 g 離心加速度持續(xù)試驗(yàn)一分鐘。
監(jiān)控振動(dòng)和沖擊
在對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行振動(dòng)或沖擊試驗(yàn)的同時(shí)進(jìn)行電性能的監(jiān)測(cè)常被稱為監(jiān)控振動(dòng)或監(jiān)控沖擊試驗(yàn)。這項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)苣M產(chǎn)品使用過程中的振動(dòng)、沖擊環(huán)境,能有效地剔除瞬時(shí)短、斷路等機(jī)械結(jié)構(gòu)不良的元器件以及整機(jī)中的虛焊等故障。在高可靠繼電器、接插件以及軍用電子設(shè)備中,監(jiān)控振動(dòng)和沖擊是一項(xiàng)重要的篩選項(xiàng)目。
典型的振動(dòng)條件是: 頻率20~2000 Hz ,加速度2~20 g ,掃描1~2周期,在共振點(diǎn)附近要多停留一段時(shí)間。典型的沖擊篩選條件是1500^ -3000g ,沖擊3~5 次,這項(xiàng)試驗(yàn)僅適用于元器件。
監(jiān)控振動(dòng)和沖擊需要專門的試驗(yàn)設(shè)備,費(fèi)用昂貴,在民用電子產(chǎn)品中一般不采用。
除以上篩選項(xiàng)目外,常用的還有粗細(xì)檢漏、鏡檢、線性判別篩選、精密篩選等。
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