開(kāi)關(guān)電源如何測(cè)試?關(guān)于開(kāi)關(guān)電源測(cè)試合格的方法

日期:2022-10-19 16:32:00 瀏覽量:1458 標(biāo)簽: 開(kāi)關(guān)電源

在很多電子電器電路中,開(kāi)關(guān)電源是故障率比較高的電路,一旦開(kāi)關(guān)電源出現(xiàn)故障后,就會(huì)導(dǎo)致各種其他故障。開(kāi)關(guān)電源具有效率高、體積小、可升降壓、可輸出負(fù)壓等諸多優(yōu)點(diǎn)。但是實(shí)際使用過(guò)程中,很多設(shè)計(jì)人員忽略了開(kāi)關(guān)電源的測(cè)試項(xiàng)目,或者對(duì)測(cè)試項(xiàng)目不了解,導(dǎo)致很多電源產(chǎn)品設(shè)計(jì)出來(lái)以后不符規(guī)范、或者功能、性能、壽命不達(dá)標(biāo),需重新設(shè)計(jì)。本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。

開(kāi)關(guān)電源如何測(cè)試?關(guān)于開(kāi)關(guān)電源測(cè)試合格的方法

1、反復(fù)短路測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明 

在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮,反復(fù)多次短路,故障排除后,模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。

測(cè)試方法 

a、空載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從空載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作,短路時(shí)間為1s,放開(kāi)時(shí)間為1s,持續(xù)時(shí)間為2小時(shí)。這以后,短路放開(kāi),判斷模塊是否能夠正常工作。

b、滿載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從滿載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時(shí)。然后短路放開(kāi),判斷模塊是否能夠正常工作。

c、短路開(kāi)機(jī):將模塊的輸出先短路,再上市電,再模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)正常的限流或回縮,短路故障排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作,重復(fù)上述試驗(yàn)10次后,讓短路放開(kāi),判斷模塊是否能夠正常工作。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

上述試驗(yàn)后,電源模塊開(kāi)機(jī)能正常工作;開(kāi)機(jī)殼檢查,電路板及其他部分無(wú)異常現(xiàn)象(如輸入繼電器在短路的過(guò)程中觸電是否粘住了等),合格;否則不合格。

2、反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明 

電源模塊輸出帶最大負(fù)載情況下,輸入電壓分別為220v,(輸入過(guò)壓點(diǎn)-5v)和(輸入欠壓點(diǎn)+5v)條件下,輸入反復(fù)開(kāi)關(guān),測(cè)試電源模塊反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)的性能。

測(cè)試方法 

a、輸入電壓為220v,電源模塊快帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;

b、輸入電壓為過(guò)壓點(diǎn)-5v,電源模塊帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;

c、輸入電壓為欠壓點(diǎn)-5v,電源模塊帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

以上試驗(yàn)中,電源模塊工作正常,試驗(yàn)后電源模塊能正常工作,性能無(wú)明顯變化,合格;否則不合格。

3、輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明 

一次電源模塊的輸入欠壓點(diǎn)保護(hù)的設(shè)置回差,往往發(fā)生以下情況:輸入電壓較低,接近一次電源模塊欠壓點(diǎn)關(guān)斷,帶載時(shí)欠壓,斷后,由于電源內(nèi)阻原因,負(fù)載卸掉后電壓將上升,可能造成一次電源模塊處于在低壓時(shí)反復(fù)開(kāi)發(fā)的狀態(tài)。

測(cè)試方法 

電源模塊帶滿載運(yùn)行,輸入電壓從(輸入欠壓點(diǎn)-3v)到(輸入欠壓點(diǎn)+3v)緩慢變化,時(shí)間設(shè)置為5~8分鐘,反復(fù)循環(huán)運(yùn)行,電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作,連續(xù)運(yùn)行最少0.5小時(shí),電源模塊性能無(wú)明顯變化。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

一次電源模塊正常連續(xù)運(yùn)行,最少0.5小時(shí)后性能無(wú)明顯變化,合格;否則不合格。

4、輸入瞬態(tài)高壓測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明 

pfc電路采用平均值電路進(jìn)行過(guò)欠壓保護(hù),因此在輸入瞬態(tài)高壓時(shí),pfc電路可能會(huì)很快實(shí)現(xiàn)保護(hù),從而造成損壞,測(cè)試一次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評(píng)估可靠性。

測(cè)試方法 

a、額定電壓輸入,用雙蹤示波器測(cè)試輸入電壓波形合過(guò)壓保護(hù)信號(hào),輸入電壓從限功率點(diǎn)加5v跳變?yōu)?00v,從示波器上讀出過(guò)壓保護(hù)前300v的周期數(shù)n,作為以下試驗(yàn)的依據(jù)。

b、額定輸入電壓,電源模塊帶滿載運(yùn)行,在輸入上疊加300v的電壓跳變,疊加的周期數(shù)為(n-1),疊加頻率為1次/30s,共運(yùn)行3小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

一次電源模塊在上述條件下能夠穩(wěn)定運(yùn)行,不出現(xiàn)損壞或其他不正?,F(xiàn)象,合格;否則不合格。

5、輸入電壓跌落及輸出動(dòng)態(tài)負(fù)載

測(cè)試說(shuō)明 

一次模塊在實(shí)際使用過(guò)程中,當(dāng)輸入電壓跌落時(shí),電源模塊突加負(fù)載的極限況是可能發(fā)生的,此時(shí)功率器件、磁性元件工作在最大瞬態(tài)電流狀態(tài),試驗(yàn)可以檢驗(yàn)控制時(shí)序、限流保護(hù)等電路及軟件設(shè)計(jì)的合理性。

測(cè)試方法 

a、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點(diǎn)+5v(持續(xù)時(shí)間為5s)、過(guò)壓點(diǎn)-5v(持續(xù)時(shí)間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在最大負(fù)載(最大額定容量,持續(xù)時(shí)間為500ms)、空載(持續(xù)時(shí)間為500ms)之間跳變,運(yùn)行1小時(shí);

b、將輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)+5v(持續(xù)時(shí)間為5s)、過(guò)壓點(diǎn)-5v(持續(xù)時(shí)間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在最大負(fù)載(最大額定容量,持續(xù)時(shí)間為1s)、空載(持續(xù)時(shí)間為500ms)之間跳變,運(yùn)行1小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

在上述條件下,應(yīng)能穩(wěn)定運(yùn)行,不出現(xiàn)損壞或其他不正?,F(xiàn)象,合格;否則不合格。若出現(xiàn)損壞情況,記錄故障問(wèn)題,以提供分析損壞原因的依據(jù)。

6、高壓空載,低壓限流態(tài)運(yùn)行試驗(yàn)

測(cè)試說(shuō)明 

高壓空載運(yùn)行是測(cè)試模塊的損耗情況,尤其是帶軟開(kāi)關(guān)技術(shù)的模塊,在空載情況下,軟開(kāi)關(guān)變?yōu)橛查_(kāi)關(guān),模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運(yùn)行是測(cè)試模塊在最大輸入電流時(shí),模塊的損耗情況,通常狀態(tài)下,模塊在低壓輸入、滿載輸出時(shí),效率最低,此時(shí)模塊的發(fā)熱最為嚴(yán)重。

測(cè)試方法 

a、將模塊的輸入電壓調(diào)整為輸入過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)-3v,模塊的輸出為最低輸出電壓,空載運(yùn)行,此時(shí),模塊的占空比為最小,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)損壞;

b、將模塊的輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)+3v,模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),此時(shí)模塊的占空比為最大,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞;

c、將模塊的輸入電壓調(diào)整為效率最低點(diǎn)時(shí)的輸入電壓,模塊輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)損壞;

d、將模塊的輸入電壓調(diào)整為過(guò)壓點(diǎn)-3v,模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),此時(shí)模塊的占空比為最大,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞;

e、將模塊的輸入電壓調(diào)整為效率最低點(diǎn)時(shí)的輸入電壓,模塊輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)損壞。

注意:上述的測(cè)試,必須在規(guī)格書(shū)規(guī)定的最高工作溫度下進(jìn)行。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

在上述條件下工作,模塊沒(méi)有出現(xiàn)損壞,合格;否則不合格。

7、電源特殊波形試驗(yàn)

測(cè)試說(shuō)明 

檢驗(yàn)電源模塊在電網(wǎng)波形畸變可能形成的尖鋒、毛刺和諧波情形下穩(wěn)定運(yùn)行能力。以下幾種波形必須輸入進(jìn)行試驗(yàn):

(1)毛刺輸入測(cè)試波形

電網(wǎng)的毛刺是電網(wǎng)中最常見(jiàn)的波形,毛刺的大小和幅值并沒(méi)有限值,一般情況下,通過(guò)振蕩波輸入測(cè)試和振鈴輸入波形,基本上可以模擬電網(wǎng)中的毛刺輸入,但還需做以下毛刺輸入試驗(yàn)

特點(diǎn):電網(wǎng)尖鋒有過(guò)沖并會(huì)跌落到0v,過(guò)沖和跌落脈寬很窄,一般不會(huì)大于100ms,過(guò)沖幅度一般不超過(guò)100v。跌落的相位并不僅只限于峰值點(diǎn),在任何相位都有可能發(fā)生。這種波形在實(shí)際電網(wǎng)中很常見(jiàn),開(kāi)通任何開(kāi)關(guān)都會(huì)造成該現(xiàn)象。

(2)電壓削波波形輸入

這種波形也是電網(wǎng)中很常見(jiàn)的,特點(diǎn)是:電網(wǎng)從不定的相位突然跌落到0v,然后直到下個(gè)半波開(kāi)始才恢復(fù)。在iec1004-4-11中對(duì)于波形的跌落是從大于半個(gè)周期開(kāi)始的,但實(shí)際電網(wǎng)中還是存在很多類(lèi)似的跌落時(shí)間小于半個(gè)周期的波形。測(cè)試時(shí)要求,輸入電壓波形從90度開(kāi)始跌落,跌落1/4個(gè)周期,長(zhǎng)時(shí)間工作2小時(shí)。

(3)電網(wǎng)的半個(gè)波頭陡升至倍電壓,這個(gè)波形主要是用來(lái)模擬實(shí)際電網(wǎng)中會(huì)突然出現(xiàn)的諧振過(guò)電壓,而且在這種情況下,模塊的輸入過(guò)電壓保護(hù)線路不起作用,這種沖擊對(duì)于有pfc的電路是存在危險(xiǎn)的。測(cè)試內(nèi)容:a、在輸入電壓為180v,輸出滿載的情況下,用ac source模擬該波形,要求180v工作3分鐘,然后電壓突然增加到380v,持續(xù)100ms,然后恢復(fù)到180v,讓模塊在這種情況下長(zhǎng)時(shí)間工作1小時(shí),不應(yīng)損壞;b、設(shè)置ac source使得輸入電壓為0v,持續(xù)5分鐘,然后電壓突然增加到380v,持續(xù)100ms,然后恢復(fù)到0v,讓模塊在這種情況下長(zhǎng)時(shí)間工作1小時(shí),不應(yīng)損壞。

測(cè)試方法 

利用ac source對(duì)模塊供電,模塊滿載輸出;用ac source模擬尖鋒、毛刺和諧波電壓輸入,每種特殊的電壓輸入工作2小時(shí),測(cè)量輸入電流和輸出電壓。模塊應(yīng)能穩(wěn)定運(yùn)行,試驗(yàn)中注意x電容,輔助電源,軟啟動(dòng)電阻等其他可能出現(xiàn)問(wèn)題的地方。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

在實(shí)際中可能出現(xiàn)尖鋒、毛刺、諧波電壓情形下能穩(wěn)定運(yùn)行,不損壞,合格;否則不合格。

8、有源pfc性能測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明 

帶有源pfc的電源模塊,對(duì)電網(wǎng)尖鋒、毛刺合和諧波比較敏感,應(yīng)進(jìn)行全面仔細(xì)的測(cè)試。

測(cè)試方法 

利用ac source交流源作為輸入電壓源,輸出分別帶半載、滿載,測(cè)試輸入電流波形和電壓波形,同時(shí)監(jiān)測(cè)pfc后的電壓;測(cè)試電網(wǎng)在尖鋒、毛刺、諧波情況下輸入電壓、電流的相位及幅值關(guān)系;測(cè)量pfc開(kāi)關(guān)管的電流和電壓,驗(yàn)證在全電壓范圍和毛刺、尖鋒、諧波等情況下開(kāi)關(guān)管和其他功率器件的安全性及電流跟蹤電壓變化的能力。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

pfc測(cè)試可以作為可靠性參考,出現(xiàn)嚴(yán)重問(wèn)題時(shí),應(yīng)及時(shí)解決。

9、操作電壓測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明 

電網(wǎng)中存在多種操作過(guò)電壓,其中最常見(jiàn)的時(shí)空載線路合閘過(guò)電壓,這種過(guò)電壓對(duì)模塊的威脅也較大,本項(xiàng)測(cè)試在于驗(yàn)證模塊抗操作過(guò)電壓的能力。

測(cè)試方法 

過(guò)電壓線路的模擬十分簡(jiǎn)單,原理如下:

其中電感的參數(shù)為10mh(供參考:ees的模塊測(cè)試方法中,沒(méi)有接地電容,輸入電阻與電感串聯(lián),電阻值為0歐、電感為8mh和電阻為79歐、電感為10mh兩種情況的測(cè)試),電容為16.7uf,測(cè)試波形如下(未畫(huà)出)。

將被測(cè)試的設(shè)備連接在電容兩端,在k合閘瞬間,在電容兩端會(huì)產(chǎn)生過(guò)電壓,用來(lái)模擬在上電過(guò)程中,過(guò)電壓對(duì)設(shè)備的損害程度。作為極限測(cè)試項(xiàng)目,輸入接l、n線,將被測(cè)試的設(shè)備接在電容兩端,頻繁開(kāi)關(guān)機(jī),重復(fù)頻率為1次/5分鐘,連續(xù)測(cè)試5小時(shí)。對(duì)于三相輸入設(shè)備,輸入接在l、l線上,被測(cè)試設(shè)備接在電容兩端,重復(fù)頻率為1次/5分鐘,連續(xù)測(cè)試2小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn) 

在測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)短時(shí)功能下降或性能劣化,但能自動(dòng)恢復(fù)的,合格;但出現(xiàn)性能永久性劣化或需要人工干預(yù)才能恢復(fù)的,不合格。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的開(kāi)關(guān)電源測(cè)試相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。我公司擁有專(zhuān)業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì),建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè),實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上,可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。

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匯總:半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié),無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見(jiàn)的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對(duì)外開(kāi)放的資源,來(lái)完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
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芯片常用失效分析手段和流程

一般來(lái)說(shuō),集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通過(guò)芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
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值得借鑒!PCB板可靠性測(cè)試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱(chēng)印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì);采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò),提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試。這篇文章就是對(duì)測(cè)試的介紹,一起來(lái)看看吧。

2021-04-26 16:47:42
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